新聞中心
News Center
繞阻法溫升結(jié)果偏高
2021-12-10
在安規(guī)測(cè)試中，我們一般采用熱電偶法來獲取待測(cè)設(shè)備內(nèi)部各個(gè)點(diǎn)的溫升情況。但是例如馬達(dá)線圈轉(zhuǎn)子由于其正常工作情況下運(yùn)動(dòng)的特性以及定子中表面某個(gè)點(diǎn)的溫升并不能更好的反映其整體溫升情況，因此，對(duì)與上述情形，我們可采取測(cè)量試驗(yàn)前后電阻來間接得出其溫升值，即繞組法。在家用電器安全標(biāo)準(zhǔn)IEC 60335-1中，對(duì)馬達(dá)線圈的溫升，要求必須用繞組法來測(cè)量。為使廣大客戶更加了解繞組測(cè)試溫升方法，摩爾實(shí)驗(yàn)室（MORLAB）特撰此文以做簡要介紹。
繞組法測(cè)溫升的原理是：銅、鋁等金屬，其電阻隨溫度的變化會(huì)呈現(xiàn)某一特定的規(guī)律。
繞組溫升由下式計(jì)算求得：△t =(R2-R1)/R1（k+t_1）-(t_2-t_1)
△t——繞組溫升;
R1——試驗(yàn)開始時(shí)電阻;
R2——試驗(yàn)結(jié)束時(shí)電阻；
k——對(duì)銅繞組，等于234.5；對(duì)于鋁繞組，等于225；
t_1——試驗(yàn)開始時(shí)的室溫；
t_2——試驗(yàn)結(jié)束時(shí)的室溫；
在上述公式中各個(gè)值的測(cè)試過程中，試驗(yàn)開始時(shí)繞組應(yīng)處于室溫。試驗(yàn)結(jié)束時(shí)零秒電阻的獲取是整個(gè)繞組法測(cè)溫升的關(guān)鍵之處，由于馬達(dá)線圈在正常工作情況下是運(yùn)動(dòng)的部件，要想直接在斷電的一瞬間測(cè)量其電阻幾乎是不可能實(shí)現(xiàn)的。并且在測(cè)試電路中存在電容和電感，在正常工作情況下會(huì)產(chǎn)生振蕩信號(hào)，會(huì)極大干擾測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。所以我們一般會(huì)采用作圖取點(diǎn)法利用衰減規(guī)律去推算零秒電阻，如下圖所示。
杭州宇諾電子科技有限公司
-
業(yè)務(wù)聯(lián)系電話
400-7112271
-
郵箱
xzsw@yunuotech.com
-
地址
浙江省杭州市余杭區(qū)余杭街道義橋工業(yè)園(緯一路與經(jīng)二路交叉口）
Copyright © 2024 杭州宇諾電子科技有限公司 All Rights Reserved. 技術(shù)支持: 鼎易科技
浙ICP備12044167號(hào)-2